1 Penambangan
Sistim Selective Mining
Selective
mining yaitu suatu cara
penambangan yang diterapkan bila bijih menyebar dengan kadar yang tidak merata,
dimana pada tempat-tempat tertentu terdapat bijih dengan kadar yang relatif
tinggi atau di atas COG, dan pada
tempat lainnya terdapat bijih dengan kadar yang rendah atau dibawa COG.
Untuk mendapatkan bijih dengan kadar yang
sesuai permintaan pasar atau pabrik, maka penambangan pada bijih yang menyebar
secara tidak merata tersebut dilakukan dengan sistim selective mining atau memilih bijih atau titik bor sesuai dengan
kadar yang diinginkan.
Alasan untuk melakukan selective mining adalah bahwa bila
seluruh material bijih dengan kadar yang tidak merata ditambang maka kadar
bijih tersebut akan berada di bawah COG (Cut
Of Grade).
2 Pengecekan
Ulang Kadar (Recheking)
Tumpukan bijih nikel pada front
penambangan akan dimuat dan diangkut ke stock
yard atau stock file sesuai
dengan titik bor dan jumlah incrementnya. Setelah sampai di stock file akan diadakan pengecekan
ulang atau recheking kadar untuk
mengetahui ketelitian atau kebenaran bijih nikel yang ada pada front penambangan.
Setelah recheking kadar diketahui dan tidak menunjukkan perbedaan yang
signifikan dengan kadar selective mining
maka akan diadakan pemindahan tumpukan sesuai dengan kebutuhan baik untuk
pabrik maupun untuk ekspor.
3 Penentuan Kadar
Setelah
pekerjaan preparasi selesai conto kemudian dikirim ke laboratorium untuk
dianalisa. Kadar bijih nikel akan diketahui setelah diadakan analisis kadar di
laboratorium dengan menggunakan analisa sinar X dan analisa kimia.
3.1
Analisa Sinar X (X-Ray)
Analisa sinar X adalah suatu cara yang
dilakukan untuk mendeteksi unsur-unsur yang dikandung oleh conto tersebut
dengan suatu alat pendeteksi yaitu Sinar X berupa sinar elektromagnetik yang mempunyai
daerah panjang gelombang antara 0,1 – 100 Ao, dimana 1 Ao
= 10-8 cm = 0,1 mm.
1.
Sifat-sifat
sinar X
Sinar
X merambat menurut garis lurus, dapat dikolimasikan dengan celah (slit).
a). Sinar X
terdiri dari partikel-partikel yang bermuatan, oleh karena itu magnet dan medan listrik tidak dapat membelokkan arah
berkas sinar.
b). Sinar X dapat diperoleh dengan jalan membom
sinar sasaran (target material) dengan berkas electron yang berenergi tinggi.
Bahan sasaran yang mempunyai berat atom yang
lebih tinggi merupakan sumber sinar X yang efisien.
c). Dapat menghitamkan plat film (sifat photography).
d). Apabila menumbuk bahan-bahan tertentu (Ca-Wolframat : ZnS, CdS, NaI dan lain-lain) akan memancarkan sinar pendaflour, artinya menyerap sinar
kemudian memancarkan kembali (sifat
fluoresensi)
e). Tidak dapat terionisasi.
2.
Penggunaan Sinar X dalam Analisis
Penggunaan sinar
X untuk keperluan analisa zat, banyak persamaannya dengan penggunaan sinar
tampak dan sinar ultra violet untuk keperluan yang sama, sehingga dapat
dipahami bahwa ada cara-cara analisa yang didasarkan pada penyerapan sinar X,
pemancaran pendaflour sinar X dan difraksi sinar X dengan panjang gelombang
antara 0,1 – 25 Ao.
3.
Cara-cara
Analisa dengan Menggunakan sinar X
a.
Berdasarkan
Penyerapan Sinar X
Sinar
X dapat diserap oleh materi, banyaknya serapan ditentukan oleh jenis bahan
penyerapan dan banyaknya bahan penyerap. Perbedaan fundamental antara
penyerapan sinar X bukan dilakukan oleh molekul-molekul melainkan dilakukan
oleh atom-atom. Misalnya penyerapan sinar X oleh Brom hanya tergantung pada
jumlah atom-atom Brom yang ada dalam jalan yang dilalui oleh sinar tersebut dan
jumlah atau banyaknya atom brom ini tergantung dari apakah Brom itu berupa gas
beratom satu atau berupa cairan, padatan dan sebagainya.
b.
Berdasarkan
Pemancaran Pendaflour sinar X
Bila suatu sinar
ditempatkan dalam sinar X maka energi sinar X itu akan diserap oleh atom-atom
unsur tersebut. Atom-atom ini akan tereksitasi dan kemudian akan memancarkan
sianr X dengan berbagai panjang gelombang yang karekteristik untuk atom-atom
unsur tersebut. Proses pemancaran sinar X ini disebut peristiwa pendaflour
sianr X atau Fluoresensi sinar X untuk analisa dapat dilakukan secara
kualitatif dan kuantitatif.
c.
Berdasarkan
Difraksi Sinar X
Salah satu sifat
sinar X yaitu bahwa dari sinar X ini akan merambat menurut arah garis lurus dan
mempunyai daya tembus yang besar, oleh karena sinar X ini juga sebagai sinar
elektomagnetik, maka sinar X mestinya dapat juga didefraksi oleh kisi defraksi.
Hanya saja mengingat panjang gelombang sinar X sangat kecil maka untuk dapat
mendefraksikan sinar X yang dipergunakan jalur-jalur harus sangat berdekatan
sekali letaknya.
4. Spektometer Sinar X ( X – Ray Spectrometer)
Spektometer
Sinar X adalah suatu alat yang digunakan untuk mengukur
intensitas
fluoresensi atau pendaflour
sinar X ( sinar sekunder ) yang
dipancarkan oleh suatu conto.
Suatu conto akan memancarkan
flueresensi sinar apabila conto tersebut
disinari dengan sinar X yang berasal dari tabung sinar X (sinar X primer).
Intensitas flouresensi sinar yang dipancarkan tersebut berbanding lurus dengan
konsentrasi unsur-unsur yang terdapat di dalam conto tersebut.bagan susunan
alat spectrometer sinar X. (gambar 3.3 hal.15).
Secara garis besarnya susunan alat sinar
X flouresent spektometer dapat dibagi
atas :
a.
Sinar
X Generator
Merupakan suatu unit yang
berfungsi untuk menghasilkan tegangan tinggi yang stabil (10-10.000 KV) untuk
digunakan pada tabung sinar.X.
b.
Spektometer
Merupakan suatu unit yang berfungsi
untuk mengspektrumkan pemancaran sinar X flouresensi
yang berasal dari conto.
c.
Electronik Circuit Sample
Merupakan suatu unit yang berfungsi
untuk menghitung dan merekam sinyal yang dideteksi oleh spektometer.
Gambar 3.3
Skema Susunan alat pendaflour sinar X
3.2 Analisa Kimia
Analisa kimia adalah analisa yang
dilakukan dengan cara analisa volumetric
atau gravimetric dimana contoh
dilarutkan dengan aquaregia dan filtratnya dititrasi dengan larutan KCN dalam
kondisi basa (Ph-nya ± 8) dengan indikator AGJ.
Prinsip dasar cara volumetric adalah
ion-ion Ni+2 diendapkan dalam larutan Dymethil Glioxime dalam suasana basa lemah membentuk endapan nikel Dymethil Glioxime yang berwarna merah, kemudian
dilarutkan kembali dan dititrasi dengan larutan standar EDTA lalu dipijarkan.
Hasil dari analisa kimia ini hanya
digunakan sebagai pembanding hasil analisa sinar X jika terjadi perbedaan yang
cukup signifikan sehingga kesalahan kesalahan penentuan kadar dapat diatasi.
3.4 Persentase
Perbedaan Kadar
Untuk mengetahui Persentase
perbedaan kadar dengan cara membandingkan kadar bijih nikel selektive mining dengan kadar bijih
nikel recheking pada titik bor yang
sama dapat dihitung dengan menggunakan rumus sebagai berikut:
Q
= q1-q2/q1 x 100 %
............................................................(1)
Dimana: