Selective Mining, Analisa Kimia dan Recheck Kadar Nikel

1      Penambangan Sistim Selective Mining
Selective mining yaitu suatu cara penambangan yang diterapkan bila bijih menyebar dengan kadar yang tidak merata, dimana pada tempat-tempat tertentu terdapat bijih dengan kadar yang relatif tinggi atau di atas COG, dan pada tempat lainnya terdapat bijih dengan kadar yang rendah atau dibawa COG.

Untuk mendapatkan bijih dengan kadar yang sesuai permintaan pasar atau pabrik, maka  penambangan pada bijih yang menyebar secara tidak merata tersebut dilakukan dengan sistim selective mining atau memilih bijih atau titik bor sesuai dengan kadar yang diinginkan.
Alasan untuk melakukan selective mining adalah bahwa bila seluruh material bijih dengan kadar yang tidak merata ditambang maka kadar bijih tersebut akan berada di bawah COG (Cut Of  Grade).

2      Pengecekan Ulang Kadar (Recheking)
Tumpukan bijih nikel pada front penambangan akan dimuat dan diangkut ke stock yard atau stock file sesuai dengan titik bor dan jumlah incrementnya. Setelah sampai di stock file akan diadakan pengecekan ulang atau recheking kadar untuk mengetahui ketelitian atau kebenaran bijih nikel yang ada pada front penambangan.
Setelah recheking kadar diketahui dan tidak menunjukkan perbedaan yang signifikan dengan kadar selective mining maka akan diadakan pemindahan tumpukan sesuai dengan kebutuhan baik untuk pabrik maupun untuk ekspor.

3       Penentuan Kadar
            Setelah pekerjaan preparasi selesai conto kemudian dikirim ke laboratorium untuk dianalisa. Kadar bijih nikel akan diketahui setelah diadakan analisis kadar di laboratorium dengan menggunakan analisa sinar X dan analisa kimia.
3.1  Analisa Sinar X (X-Ray)
Analisa sinar X adalah suatu cara yang dilakukan untuk mendeteksi unsur-unsur yang dikandung oleh conto tersebut dengan suatu alat pendeteksi yaitu Sinar X berupa sinar elektromagnetik yang mempunyai daerah panjang gelombang antara 0,1 – 100 Ao, dimana 1 Ao = 10-8 cm = 0,1 mm.
1.     Sifat-sifat sinar X
Sinar X merambat menurut garis lurus, dapat dikolimasikan dengan celah  (slit).
a).   Sinar X  terdiri dari partikel-partikel yang bermuatan, oleh karena itu     magnet dan medan listrik tidak dapat membelokkan arah berkas sinar.
b).   Sinar X dapat diperoleh dengan jalan membom sinar sasaran (target material) dengan berkas electron yang berenergi tinggi. Bahan sasaran yang mempunyai berat atom yang  lebih tinggi merupakan sumber sinar X yang efisien.
c).   Dapat menghitamkan plat film (sifat photography).
d).   Apabila menumbuk bahan-bahan tertentu (Ca-Wolframat : ZnS, CdS,   NaI dan lain-lain) akan memancarkan sinar pendaflour, artinya menyerap sinar kemudian memancarkan kembali (sifat fluoresensi)
e). Tidak dapat terionisasi.
2.     Penggunaan Sinar X dalam Analisis
Penggunaan sinar X untuk keperluan analisa zat, banyak persamaannya dengan penggunaan sinar tampak dan sinar ultra violet untuk keperluan yang sama, sehingga dapat dipahami bahwa ada cara-cara analisa yang didasarkan pada penyerapan sinar X, pemancaran pendaflour sinar X dan difraksi sinar X dengan panjang gelombang antara 0,1 – 25 Ao.
3.    Cara-cara Analisa dengan Menggunakan sinar X
a.    Berdasarkan Penyerapan Sinar X
Sinar X dapat diserap oleh materi, banyaknya serapan ditentukan oleh jenis bahan penyerapan dan banyaknya bahan penyerap. Perbedaan fundamental antara penyerapan sinar X bukan dilakukan oleh molekul-molekul melainkan dilakukan oleh atom-atom. Misalnya penyerapan sinar X oleh Brom hanya tergantung pada jumlah atom-atom Brom yang ada dalam jalan yang dilalui oleh sinar tersebut dan jumlah atau banyaknya atom brom ini tergantung dari apakah Brom itu berupa gas beratom satu atau berupa cairan, padatan dan sebagainya.
b.    Berdasarkan Pemancaran Pendaflour sinar X
Bila suatu sinar ditempatkan dalam sinar X maka energi sinar X itu akan diserap oleh atom-atom unsur tersebut. Atom-atom ini akan tereksitasi dan kemudian akan memancarkan sianr X dengan berbagai panjang gelombang yang karekteristik untuk atom-atom unsur tersebut. Proses pemancaran sinar X ini disebut peristiwa pendaflour sianr X atau Fluoresensi sinar X untuk analisa dapat dilakukan secara kualitatif dan kuantitatif.
c.    Berdasarkan Difraksi Sinar X
Salah satu sifat sinar X yaitu bahwa dari sinar X ini akan merambat menurut arah garis lurus dan mempunyai daya tembus yang besar, oleh karena sinar X ini juga sebagai sinar elektomagnetik, maka sinar X mestinya dapat juga didefraksi oleh kisi defraksi. Hanya saja mengingat panjang gelombang sinar X sangat kecil maka untuk dapat mendefraksikan sinar X yang dipergunakan jalur-jalur harus sangat berdekatan sekali letaknya.
4.     Spektometer Sinar X ( X – Ray Spectrometer)
Spektometer Sinar X adalah suatu alat yang digunakan untuk   mengukur
intensitas   fluoresensi  atau  pendaflour  sinar X  ( sinar sekunder )  yang
 dipancarkan oleh suatu conto.
Suatu conto akan memancarkan flueresensi sinar apabila conto tersebut disinari dengan sinar X yang berasal dari tabung sinar X (sinar X primer). Intensitas flouresensi sinar yang dipancarkan tersebut berbanding lurus dengan konsentrasi unsur-unsur yang terdapat di dalam conto tersebut.bagan susunan alat spectrometer sinar X. (gambar 3.3 hal.15).
Secara garis besarnya susunan alat sinar X flouresent spektometer dapat dibagi atas :
a.        Sinar X Generator
Merupakan suatu unit yang berfungsi untuk menghasilkan tegangan tinggi yang stabil (10-10.000 KV) untuk digunakan pada tabung sinar.X.
b.        Spektometer
         Merupakan suatu unit yang berfungsi untuk mengspektrumkan pemancaran sinar X flouresensi yang berasal dari conto.
c.        Electronik Circuit Sample
         Merupakan suatu unit yang berfungsi untuk menghitung dan merekam sinyal yang dideteksi oleh spektometer.

Gambar 3.3
Skema Susunan alat pendaflour sinar X

3.2   Analisa Kimia
Analisa kimia adalah analisa yang dilakukan dengan cara analisa volumetric atau gravimetric dimana contoh dilarutkan dengan aquaregia dan filtratnya dititrasi dengan larutan KCN dalam kondisi basa (Ph-nya ± 8) dengan indikator AGJ.
Prinsip dasar cara volumetric adalah ion-ion Ni+2 diendapkan dalam larutan Dymethil Glioxime dalam suasana basa lemah membentuk endapan nikel Dymethil Glioxime yang berwarna merah, kemudian dilarutkan kembali dan dititrasi dengan larutan standar EDTA lalu dipijarkan.
Hasil dari analisa kimia ini hanya digunakan sebagai pembanding hasil analisa sinar X jika terjadi perbedaan yang cukup signifikan sehingga kesalahan kesalahan penentuan kadar dapat diatasi.

3.4       Persentase Perbedaan Kadar

Untuk mengetahui Persentase perbedaan kadar dengan cara membandingkan kadar bijih nikel selektive mining dengan kadar bijih nikel recheking pada titik bor yang sama dapat dihitung dengan menggunakan rumus sebagai berikut:


         Q  = q1-q2/q1 x 100 % ............................................................(1)

Dimana:
         Q    =  Persentase Perbedaan kadar
         q1   =  Kadar Selektive Mining

         q2   =  Kadar Recheking
Previous
Next Post »